Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing)
Manoj Sachdev Jose Pineda de Gyvez
Springer
Basım Tarihi:
2007
ISBN:
9780387465463
Mağaza Sayısı:
1
Fiyat Aralığı:
179.99 ₺
En son güncelleme:2025-06-28 09:36:49

Mağaza
Kitap Adı
Fiyat